2-5μm紅外線光譜儀

高達130 kHz全譜讀出速率
-80 dBm/nm靈敏度
2.0 ~ 5.0 μm頻寬
光纖耦合輸入
即插即用
 

介紹
中紅外線(MIR)光譜用於分析中紅外線訊號。 在工業和研究中，用於氣體、液體和固體的非侵入性表徵以及光源的表徵。 NLIR 2.0 - 5.0 μ m譜儀(S2050-400/S2050-130k)基於一種新的測量方案，將MIR光上轉換為近可見光。 矽基探測器在探測效率、速度和雜訊方面遠優於MIR光探測器。 因此，NLIR上轉換技術為MIR系統帶來了這些吸引人的特性和隨之而來的優勢。

下面看到的兩個版本光譜儀的靈敏度在-80 dBm/nm或更好，最大全光譜讀出率是130 kHz! 因此，該光譜儀能夠以小於10 μ s的時間分辨率對信號進行表徵和通過 光譜測量化學過程中含量變化。

參數

應用案例

40KHz單脈衝測量

以80 kHz的全譜讀出率光譜儀測量頻寬約為3.5 μ m ~ 4.2 μ m，重複頻率為40 kHz脈寬2 ns的超連續光源單脈衝。

圖（a）顯示12毫秒內採集的原始數據

圖（b）顯示40 kHz和80 kHz的取樣結果，其他區域是空白的

圖（c）顯示10個原始的連續光譜。 到目前為止，光譜的波動是來自光源的雜訊。
從此測量可以知道，S2050-130k光譜儀能夠表徵紅外線雷射的快速調製和其他動態事件。

塑膠透過率

以一個30 W的碳化矽棒作為紅外線光源，對50 μ m的聚苯乙烯(PS)薄膜和800 μ m的聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜進行透射測量。 S2050-400光譜儀的曝光時間設定為20毫秒，只捕捉單一鏡頭。 沒有對隨後的數據進行平均或平滑處理。

在塑膠識別或厚度分析的背景下，電腦演算法可以允許更短的曝光時間，從而獲得更快的採集速度。

光學薄膜透過率

以30 W的碳化矽棒作為紅外線光源測量光學薄膜的透射率:3.7 -4.5 μ m的Ge帶通濾波器(BPF)和在1064 nm處高反射、2.1 -4.5 μ m高透的YAG 鏡面。 S2050-400光譜儀的曝光時間設定為20毫秒，只捕捉單張照片。 沒有對隨後的數據進行平均或平滑處理。

光學鍍膜品質控制和生產監控可能需要這種測量。

反射式光纖探頭2-5μm

光纖反射探頭是一種單反射衰減全反射(ATR)晶體，具有光纖耦合的輸入和輸出的特性。

在本次測量中，來自碳化矽棒的30W光耦合到輸入光纖，輸出光纖連接到S2050-400光譜儀。 首先以空氣中的ATR探針作參考，接著探針分別插入水、丙烷-2-醇和葵花籽油中，產生這些吸收圖。 測量是在100毫秒的曝光時間下進行的單次拍攝，並透過資料掃描一個4像素寬的高斯濾波器進行平滑。

免費光譜儀軟體
包含：

一個簡單易用的軟體程式。
資料即時串流、外部觸發模式、後台擷取、傳輸視圖、資料保存等。
可依要求在MATLAB和Python中提供光譜儀的API。